A、r/D<86%時(shí),用K=1的探頭
B、r/D≤96%時(shí),用K=2的探頭
C、r/D≤97.5%時(shí),用K=2.5的探頭
D、以上都對(duì)
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A、CL:CS:CR≈1.8:2.0:1
B、CL:CS:CR≈1:1:1
C、CL:CS:CR≈1.8:1.0:0.9
D、CL:CS:CR≈1:2.0:4
A、1/2倍
B、1/4倍
C、2倍
D、4倍
A、第三臨界角
B、第一臨界角
C、第二臨界角
D、半擴(kuò)散角
A、第二臨界角
B、第一臨界角
C、第三臨界角
D、以上都不對(duì)
A、橫波波全反射
B、縱波波全反射
C、表面波全反射
D、以上都不對(duì)
最新試題
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的()
用于測量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì),其探頭(傳感器)的光敏組件的前面有(),只適用于測量黑光。
渦流探傷中平底盲孔缺陷對(duì)于管壁的()具有較好的代表性,因此在在役管材的渦流檢測中較多采用。
渦流檢測儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出()的相關(guān)信息。
在聲束垂直試件表面時(shí),所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
渦流檢測輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置在()材生產(chǎn)線上的應(yīng)用最為廣泛。
特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì),它反映子實(shí)體滿足需要的()
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
渦流檢測中的對(duì)比試樣的()和材質(zhì)相對(duì)被檢測產(chǎn)品必須具有代表性。
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()