A、探頭耦合面幾何尺寸來決定
B、根據(jù)試塊材料決定
C、幾何尺寸可能產(chǎn)生的干擾雜波必須比參考回波遲到4λ以上
D、以上都不對
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你可能感興趣的試題
A、底波計算法
B、試塊法
C、通用AVG曲線法
D、以上都可以
A、直探頭
B、斜探頭
C、雙晶探頭
D、以上都可以
A、1MHzφ14mm
B、2.5MHzφ14mm
C、1MHzφ20mm
D、25MHzφ30mm
A、無背襯石英探頭
B、帶酚醛樹脂背襯的石英探頭
C、帶酚醛樹脂背襯的鈦酸鋇探頭
D、帶環(huán)氧樹脂背襯的硫酸鋰探頭
A、頻率為2.5MHz
B、圓晶片直徑為20㎜
C、晶片材料為鈦酸鋇陶瓷
D、以上都對
最新試題
渦流檢測線圈是在被檢測導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生()
缺陷愈大,所遮擋的聲束也愈多,底波波高也就愈低,這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的()
在聲束垂直試件表面時,所獲得的()反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。
渦流檢測中的對比試樣的()和材質(zhì)相對被檢測產(chǎn)品必須具有代表性。
渦流探傷中平底盲孔缺陷對于管壁的()具有較好的代表性,因此在在役管材的渦流檢測中較多采用。
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括()、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
當(dāng)波束不再與缺陷相遇,則回波()
各類渦流檢測儀器的工作原理和()是相同的。
鑄件超聲檢測的特點是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射,相應(yīng)的可檢缺陷尺寸()
在遠(yuǎn)場區(qū),當(dāng)缺陷比聲束截面小時,缺陷波高與缺陷面積成()