單項選擇題曝光過程中，與X射線膠片緊密接觸的鉛增感屏可提高底片黑度，其原因是（）。
A、鉛增感屏會產(chǎn)生可見光和熒光
B、鉛屏可吸收散射線
C、防止背散射造成膠片灰霧
D、鉛屏受X射線和γ射線照射會發(fā)生二次電子
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1.單項選擇題鉛增感屏鉛箔局部剝落，底片上表現(xiàn)為（）。
A、較黑斑塊顯示
B、較白斑塊顯示
C、無顯示
D、以上任何一種
2.單項選擇題大晶粒金屬零件進行射線照相時，利用提高管電壓和使用鉛增感屏可以（）。
A、增大衍射斑的影響
B、減少或消除衍射斑的影響
C、增大焦距的影響
D、以上任何一種
3.單項選擇題膠片特性曲線斜率可判別膠片的下列特性（）。
A、感光度
B、梯度
C、灰霧度
D、以上都對
4.單項選擇題X射線底片清晰度不好，可能是由于（）。
A、采用非增感型膠片、鉛增感組合
B、采用低管壓、高電流照相
C、采用增感型膠片與熒光增感屏組合
D、射線管焦點小
5.單項選擇題連續(xù)寬束X射線透照試件，試件的厚度越大，則散射比越大，平均衰減系數(shù)（）。
A、越小
B、越大
C、無變化
D、以上全對
最新試題
對于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進行掃查。
題型：單項選擇題
渦流檢測線圈的互感線圈一般由（）構(gòu)成。
題型：單項選擇題
當波束不再與缺陷相遇，則回波（）
題型：單項選擇題
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展，出現(xiàn)了多種型號的同時具備探傷、電導(dǎo)率測量（）測量功能的通用型儀器。
題型：單項選擇題
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
題型：單項選擇題
根據(jù)檢測對象和目的的不同，渦流檢測儀器一般可分為（）、渦流電導(dǎo)儀和渦流測厚儀三種。
題型：單項選擇題
波束截面中心聲能（），隨著與中心的距離的增大，聲能（）
題型：單項選擇題
對于長條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。
題型：單項選擇題
渦流檢測儀的阻抗幅值型儀器在顯示終端僅給出（）的相關(guān)信息。
題型：單項選擇題
缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）
題型：單項選擇題