A、磁羅盤(pán)
B、場(chǎng)強(qiáng)計(jì)
C、高斯計(jì)
D、以上可以
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A、放在線(xiàn)圈的軸線(xiàn)上
B、與線(xiàn)圈的軸線(xiàn)垂直放置
C、貼近線(xiàn)圈內(nèi)側(cè)平行于軸線(xiàn)
D、以上都對(duì)
A、直流電
B、單相全波整流電
C、交流電
D、三相全波整流電
A、濕法直流磁化
B、濕法交流磁化
C、干法直流磁化
D、干法交流磁化
A、連續(xù)法
B、濕法
C、剩磁法
D、干法
A、試件溫度高時(shí)，干法比濕法好
B、干法是以空氣為媒質(zhì)施加磁粉的方法
C、在檢出近表面內(nèi)部缺陷的場(chǎng)合，干法比濕法更適用
D、以上都對(duì)
最新試題
磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和（）兩種測(cè)量方法。
缺陷檢測(cè)即通常所說(shuō)的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
渦流檢測(cè)線(xiàn)圈的自感式線(xiàn)圈由（）構(gòu)成。
對(duì)于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場(chǎng)區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng)，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。
鑄件超聲檢測(cè)的特點(diǎn)是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射，相應(yīng)的可檢缺陷尺寸（）
渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的（）
根據(jù)檢測(cè)對(duì)象和目的的不同，渦流檢測(cè)儀器一般可分為（）、渦流電導(dǎo)儀和渦流測(cè)厚儀三種。
各類(lèi)渦流檢測(cè)儀器的（）和結(jié)構(gòu)各不相同。
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
用于測(cè)量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì)，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測(cè)量黑光。