對于長條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。

當(dāng)波束不再與缺陷相遇，則回波（）

當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的（）

渦流檢測線圈是在被檢測導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生（）

掃查方式一般視試件的（）而定。

渦流檢測中的對比試樣的（）和材質(zhì)相對被檢測產(chǎn)品必須具有代表性。

渦流檢測線圈的自感式線圈由（）構(gòu)成。

缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）

在聲束垂直試件表面時，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。

波束截面中心聲能（），隨著與中心的距離的增大，聲能（）