真空中波長為λ的單色光，在折射率為n的均勻透明媒質(zhì)中，從A點(diǎn)沿某一路徑傳播到B點(diǎn)。設(shè)路徑的長度為ι，A、B兩點(diǎn)光振動(dòng)相位差記為△φ，則ι和△φ的值分別為：（）

如果兩個(gè)偏振片堆疊在一起，且偏振化方向之間夾角呈60°，假設(shè)二者對光無吸收，光強(qiáng)為I的自然光垂直入射在偏振片上，則出射光強(qiáng)為：（）

如果兩個(gè)偏振片堆疊在一起，且偏振化方向之間夾角呈30°，假設(shè)二者對光無吸收，光強(qiáng)為I0的自然光垂直入射在偏振片上，則出射光強(qiáng)為：（）

一單色光垂直照射在空氣劈尖上，當(dāng)劈尖的劈角增大時(shí)，各級(jí)干涉條紋將有下列中的何種變化？（）

波長為λ的單色平行光垂直入射到薄膜上，已知n1>n3，如圖所示。則從薄膜上、下兩表面反射的光束①與②的光程差是：（）

一束白光垂直射到一光柵上，在形成的同一級(jí)光柵光譜中，偏離中央明紋最遠(yuǎn)的是：（）

用波長為λ的單色光垂直照射到空氣劈尖上，從反射光中觀察干涉條紋，距頂點(diǎn)為L處是暗條紋。使劈尖角θ連續(xù)變大，直到該點(diǎn)處再次出現(xiàn)暗條紋為止（見圖）。則劈尖角的改變量△θ是：（）

用劈尖干涉法可檢測工件表面缺陷，當(dāng)波長為λ的單色平行光垂直入射時(shí)，若觀察到的干涉條紋如圖所示，每一條紋彎曲部分的頂點(diǎn)恰好與其左邊條紋的直線部分的連線相切，則工件表面與條紋彎曲處對應(yīng)的部分應(yīng)：（）

三個(gè)偏振片P1、P2與P3堆疊在一起，P1與P3的偏振化方向相互垂直，P2與P1的偏振化方向間的夾角為30°。強(qiáng)度為I0的自然光垂直入射于偏振片P1，并依次透過偏振片P1、P2與P3，則通過三個(gè)偏振片后的光強(qiáng)為：（）

在雙縫裝置實(shí)驗(yàn)中，對于給定的入射單色光，當(dāng)雙縫間距增大時(shí)，則屏幕上干涉條紋的變化情況是：（）