波長為λ的X射線，投射到晶體常數(shù)為d的晶體上，取k=0，2，3，…，出現(xiàn)X射線衍射加強的衍射角θ（衍射的X射線與晶面的夾角）滿足的公式為：（）

一束白光垂直射到一光柵上，在形成的同一級光柵光譜中，偏離中央明紋最遠的是：（）

如果兩個偏振片堆疊在一起，且偏振化方向之間夾角呈30°，假設(shè)二者對光無吸收，光強為I0的自然光垂直入射在偏振片上，則出射光強為：（）

使一光強為I0的平面偏振光先后通過兩個偏振片P1和P2，P1和P2的偏振化方向與原入射光光矢量振動方向的夾角分別是α和90°，則通過這兩個偏振片后的光強I是：（）

在邁克耳遜干涉儀的反射鏡M2平移距離為0.3220mm時，測得某單色光的干涉條紋移過1024條，則該單色光的波長為：（）

在單縫夫瑯和費衍射實驗中，若將縫寬縮小一半，則原來第三級暗紋處將出現(xiàn)的條紋是：（）

ABCD為一塊方解石的一個截面，AB為垂直于紙面的晶體平面與紙面的交線。光軸方向在紙面內(nèi)且與AB成一銳角θ，如圖所示。一束平行的單色自然光垂直于AB端面入射。在方解石內(nèi)折射光分解為o光和e光，關(guān)于o光和e光的關(guān)系，下列敘述正確的是？（）

在雙縫裝置實驗中，對于給定的入射單色光，當雙縫間距增大時，則屏幕上干涉條紋的變化情況是：（）

三個偏振片P1、P2與P3堆疊在一起，P1與P3的偏振化方向相互垂直，P2與P1的偏振化方向間的夾角為30°。強度為I0的自然光垂直入射于偏振片P1，并依次透過偏振片P1、P2與P3，則通過三個偏振片后的光強為：（）

用劈尖干涉法可檢測工件表面缺陷，當波長為λ的單色平行光垂直入射時，若觀察到的干涉條紋如圖所示，每一條紋彎曲部分的頂點恰好與其左邊條紋的直線部分的連線相切，則工件表面與條紋彎曲處對應的部分應：（）