A.負(fù)載測(cè)試
B.易用性測(cè)試
C.強(qiáng)度測(cè)試
D.安全測(cè)試
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A.a=5，b=3，c=6
B.a=2，b=3，c=5
C.a=7，b=3，c=3
D.a=2，b=6，c=3
A.條件覆蓋
B.條件組合覆蓋
C.語(yǔ)句覆蓋
D.判定/條件覆蓋
下圖用基本路徑法測(cè)試需要覆蓋幾條路徑（）。
A.3
B.4
C.5
D.6
A.白盒測(cè)試也稱結(jié)構(gòu)測(cè)試或邏輯驅(qū)動(dòng)測(cè)試，是指基于一個(gè)應(yīng)用代碼的內(nèi)部邏輯知識(shí)，即基于覆蓋全部代碼、分支、路徑、條件的測(cè)試。
B.黑盒測(cè)試也稱功能測(cè)試或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試，它是在已知產(chǎn)品所應(yīng)具有的功能，通過測(cè)試來(lái)檢測(cè)每個(gè)功能是否都能正常使用
C.黑盒測(cè)試，也稱作黑盒分析，是基于對(duì)程序內(nèi)部細(xì)節(jié)有限認(rèn)知上的軟件調(diào)試方法
D.黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試相比，更需要關(guān)心模塊與模塊之間的交互
A.測(cè)試驅(qū)動(dòng)開發(fā)式是一種敏捷開發(fā)方法
B.TDD需求開發(fā)人員學(xué)習(xí)測(cè)試相關(guān)知識(shí)
C.測(cè)試驅(qū)動(dòng)開發(fā)不適合使用CMM/CMMI方法
D.測(cè)試驅(qū)動(dòng)開發(fā)可以和結(jié)對(duì)編程結(jié)合使用
最新試題
在（）中，只需要考慮所有可能的執(zhí)行路徑，對(duì)于不可能執(zhí)行的路徑，是不需要考慮的。
測(cè)試輸入是測(cè)試計(jì)劃制定的依據(jù)，但不包括下面哪個(gè)內(nèi)容？（）
測(cè)試優(yōu)先級(jí)中，用戶用的越多或?qū)I(yè)務(wù)影響越關(guān)鍵的測(cè)試項(xiàng)，其測(cè)試優(yōu)先級(jí)也越高。
軟件缺陷的優(yōu)先級(jí)從P1-P4級(jí)下面對(duì)其描述正確的是（）
強(qiáng)調(diào)對(duì)評(píng)審對(duì)象要從頭到尾檢查一遍，容易發(fā)現(xiàn)表面問題。說的是以下哪一種評(píng)審方法？（）
模擬負(fù)載測(cè)試需要通過一些參數(shù)的設(shè)定來(lái)實(shí)現(xiàn)，常見參數(shù)包括“并發(fā)用戶數(shù)、思考時(shí)間、價(jià)值循環(huán)次數(shù)或持續(xù)時(shí)間、請(qǐng)求的數(shù)據(jù)量和加載的方式”。
在logical coverage法中覆蓋范圍比較小的是（）。
軟件測(cè)試的重要性不包括下面哪一個(gè)？（）
等價(jià)類劃分法使用步驟描述錯(cuò)誤的是（）
H模型沒能體現(xiàn)“及早的和不斷的進(jìn)行軟件測(cè)試”原則。