單項(xiàng)選擇題線聚焦探頭的聲透鏡形狀為（）
A.球面
B.平面
C.柱面
D.以上都可以
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1.單項(xiàng)選擇題以下哪一條不屬于雙晶探頭的主要參數(shù)？（）
A.近場長度
B.頻率
C.晶片尺寸
D.聲束交區(qū)范圍
2.單項(xiàng)選擇題雙晶直探頭的最主要用途是（）。
A.探測近表面缺陷
B.精確測定缺陷長度
C.精確測定缺陷高度
D.用于表面缺陷檢測
3.單項(xiàng)選擇題下面關(guān)于橫波斜探頭的說法哪一條是錯誤的？（）
A.橫波斜探頭是由直探頭和透聲斜楔組成的
B.斜楔前面開槽的目的是減少反射雜波
C.斜楔中的縱波聲速應(yīng)大于工件中的縱波聲速
D.橫波是在斜楔與工件交界面產(chǎn)生的
4.單項(xiàng)選擇題在粗糙表面或曲面工件上作直探頭檢測時，應(yīng)使用（）。
A.硬保護(hù)膜探頭
B.軟保護(hù)膜探頭
C.大尺寸探頭
D.高頻直探頭
5.單項(xiàng)選擇題直探頭中阻尼塊的作用是（）。
A.對晶片振動起阻尼作用
B.吸收晶片背面發(fā)出的雜波
C.對晶片起支撐作用
D.以上都是
最新試題
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時，在第一次底波之后，還有2個特定位置的反射波，這種波是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
用橫波斜探頭檢測，找到缺陷最大回波后，探頭所在截面及（）可以確定缺陷位置。
題型：單項(xiàng)選擇題
底波高度法不用試塊，可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小，操作方便，適用于（）的工件。
題型：單項(xiàng)選擇題
關(guān)于液浸法的優(yōu)點(diǎn)，說法錯誤的是（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
調(diào)整檢測靈敏度的目的在于檢測出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對缺陷進(jìn)行（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
探頭延檢測面水平移動，超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
題型：單項(xiàng)選擇題
檢測靈敏度太高和太低對檢測都不利。靈敏度太低，（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
測長法是根據(jù)測長缺陷回波高度變化與探頭移動位置的相互關(guān)系來確定缺陷尺寸的。按規(guī)定的方法測得的缺陷長度稱為缺陷的（）。
題型：單項(xiàng)選擇題
超聲檢測對缺陷定位時，（）不是影響缺陷定位的主要因素。
題型：單項(xiàng)選擇題