A、X線透視
B、CT掃描
C、X線攝影
D、X線造影檢查
E、X線特殊檢查
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、0.03nm
B、0.046nm
C、0.06nm
D、0.077nm
E、0.09nm
A、X線波長比可見光波長長
B、X線是微粒輻射
C、X線是電磁輻射
D、有波、粒二象性
E、X線是一種能
A、與管電壓有關(guān)
B、與管電流有關(guān)
C、與靶物質(zhì)的原子序數(shù)成正比
D、診斷用X線的發(fā)生效率為30%
E、與特征X線的波長無關(guān)
A、進行現(xiàn)狀分析要從零狀態(tài)開始
B、要注意工作中不適應(yīng)性
C、要注意材料的浪費
D、要注意質(zhì)量與作業(yè)的不穩(wěn)定
E、要探索深層次的真正原因
A、1000
B、800
C、600
D、400
E、200
A、質(zhì)量管理計劃
B、全面質(zhì)量管理
C、質(zhì)量保證
D、質(zhì)量管理
E、質(zhì)量控制
A、質(zhì)量控制
B、質(zhì)量管理
C、質(zhì)量保證
D、質(zhì)量管理計劃
E、全面質(zhì)量管理
A、改善圖像質(zhì)量
B、存儲圖像潛影
C、檢測圖像數(shù)據(jù)
D、完成模/數(shù)轉(zhuǎn)換
E、傳輸圖像數(shù)據(jù)
A.薄膜晶體管
B.平板探測器
C.檢出量子效率
D.電荷耦合器件
E.多絲正比室
A、IP是一種成像轉(zhuǎn)換器件
B、IP是成像板,不產(chǎn)生潛影
C、IP被激光照射后發(fā)出藍色熒光
D、IP被可見強光照射后潛影信息會消失
E、IP的型號不同對X線的敏感度也不同