精密光學(xué)水準(zhǔn)儀的日常保養(yǎng)中，一般使用（）擦拭鏡片。

衡量地形圖測(cè)量的技術(shù)指標(biāo)主要有地物點(diǎn)的（）、等高線插求點(diǎn)的高程中誤差、細(xì)部點(diǎn)的平面和高程中誤差以及地形點(diǎn)的最大點(diǎn)位間距。

精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑，則說明光學(xué)部件有（）現(xiàn)象。

（）常采用獨(dú)立坐標(biāo)系統(tǒng)。

路線定義（主點(diǎn)法）曲線左偏時(shí)，半徑輸入為（）值。

儀器及反光鏡的對(duì)中偏差均不應(yīng)大于（）。

載波相位測(cè)量如觀測(cè)過程中跟蹤衛(wèi)星信號(hào)沒有中斷，則初始時(shí)刻整周相位是未知數(shù)，通常為一個(gè)常數(shù)，稱為（）

RTK測(cè)量的基本工作流程中，在至少（）個(gè)公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)（即點(diǎn)校正）。

若依次采用元素法、主點(diǎn)法或交點(diǎn)法三種路線定義方法，那么路線定義的最終數(shù)據(jù)為最后采用（）的定義方法所得到的有效數(shù)據(jù)。

四等導(dǎo)線測(cè)量全長(zhǎng)相對(duì)閉合差的限差規(guī)定為（）。