（）常采用獨(dú)立坐標(biāo)系統(tǒng)。

精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑，則說(shuō)明光學(xué)部件有（）現(xiàn)象。

同步基線是利用同一時(shí)段的（）同步觀測(cè)站所采集的觀測(cè)數(shù)據(jù)所計(jì)算出的若干基線向量。

度盤刻劃誤差，可以按照（）變換水平度盤位置削弱該誤差影響。

下列誤差中，（）是水準(zhǔn)測(cè)量的主要儀器誤差。

DJ2光學(xué)經(jīng)緯儀的水平度盤讀數(shù)設(shè)定方法是，應(yīng)（），使水平度盤讀數(shù)對(duì)到需要設(shè)定的度數(shù)及的整數(shù)倍，同時(shí)使符合對(duì)徑分劃線上下精確對(duì)齊。

若依次采用元素法、主點(diǎn)法或交點(diǎn)法三種路線定義方法，那么路線定義的最終數(shù)據(jù)為最后采用（）的定義方法所得到的有效數(shù)據(jù)。

光電測(cè)距中對(duì)向觀測(cè)的作用是減弱大氣折光、（）等對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。

設(shè)A點(diǎn)高程1279.25m，B點(diǎn)上安置經(jīng)緯儀，儀器高為1.43m，平距DAB=341.23m，觀測(cè)A點(diǎn)上覘標(biāo)高為4.0m的目標(biāo)得豎直角為-13°19′00″，則由此算得B點(diǎn)的高程為（）

利用偽距作空間交會(huì)來(lái)定位點(diǎn)位的方法稱為（）