A.在端角或棱邊會(huì)產(chǎn)生較強(qiáng)的反射回波
B.聲束以小角度斜入射至底面時(shí)反射聲束將產(chǎn)生位移
C.與縱波相比,橫波對(duì)表面變化不敏感
D.以上都是
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A.14°
B.27°
C.38°
D.49°
A.14°
B.27°
C.38°
D.49°
A.25%
B.50%
C.75%
D.100%
A.25%
B.50%
C.75%
D.100%
A.距入射點(diǎn)約50.2mm、埋深38.6mm處
B.距入射點(diǎn)約56.5mm、埋深43.4mm處
C.距入射點(diǎn)約70.4mm、埋深22.3mm處
D.距入射點(diǎn)約80.1mm、埋深.16.5mm處
最新試題
()是影響缺陷定量的因素。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對(duì)大小,操作方便,適用于()的工件。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
超聲波儀時(shí)基線的水平刻度與實(shí)際聲程成正比的程度,即()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測(cè)出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來(lái)確定。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說(shuō)法錯(cuò)誤的是()。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
檢測(cè)靈敏度太高和太低對(duì)檢測(cè)都不利。靈敏度太低,()。