A.均數(shù)
B.幾何均數(shù)
C.中位數(shù)
D.相對(duì)數(shù)
E.四分位數(shù)
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A.建立無(wú)效假設(shè)
B.確定檢驗(yàn)水準(zhǔn)α
C.計(jì)算統(tǒng)計(jì)量
D.確定P值，做出推斷結(jié)論
E.對(duì)兩均數(shù)差別的描述
A.假設(shè)樣本均數(shù)與已知總體均數(shù)相等
B.假設(shè)樣本的總體均數(shù)與已知總體均數(shù)相等
C.樣本的總體均數(shù)與已知總體均數(shù)不相等
D.兩個(gè)總體均數(shù)不相等
E.以上均不正確
A.個(gè)體值和總體參數(shù)值之差
B.個(gè)體值和樣本統(tǒng)計(jì)量值之差
C.樣本統(tǒng)計(jì)量值和總體參數(shù)值之差
D.樣本統(tǒng)計(jì)量值和樣本統(tǒng)計(jì)量值之差
E.總體參數(shù)值和總體參數(shù)值之差
A.r=0
B.ρ=0
C.r=1
D.ρ=1
E.ρ≠1
A.標(biāo)準(zhǔn)誤越大，抽樣誤差越大，樣本對(duì)總體的代表性越好
B.標(biāo)準(zhǔn)誤越大，抽樣誤差越小，樣本對(duì)總體的代表性越好
C.標(biāo)準(zhǔn)誤越小，抽樣誤差越大，樣本對(duì)總體的代表性越差
D.標(biāo)準(zhǔn)誤越小，抽樣誤差越小，樣本對(duì)總體的代表性越好
E.標(biāo)準(zhǔn)誤與抽樣誤差沒(méi)有關(guān)系
最新試題
在t檢驗(yàn)中，當(dāng)P≤0.05時(shí)，說(shuō)明()
標(biāo)準(zhǔn)誤的應(yīng)用包括()
繪制統(tǒng)計(jì)圖的基本要求是()
logistic回歸中參數(shù)估計(jì)值的假設(shè)檢驗(yàn)方法有（）
在制定調(diào)查計(jì)劃時(shí)，為了明確達(dá)到調(diào)查目的，要求（）
無(wú)效假設(shè)是（）
兩樣本均數(shù)差別的假設(shè)檢驗(yàn)用t檢驗(yàn)的條件是()
兩個(gè)或多個(gè)率比較時(shí)，以下哪些情況不是率標(biāo)準(zhǔn)化的適用條件()
抽樣調(diào)查決定樣本大小的原則是()
經(jīng)檢驗(yàn)得P<0.05，則（）