A.標(biāo)準(zhǔn)氫電極;
B.飽和甘汞電極;
C.玻璃電極;
D.銀絲電極。
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你可能感興趣的試題
A.玻璃電極
B.甘汞電極
C.銀電極
D.鉑電極
E.復(fù)合甘汞電極
A.電位滴定法
B.酸堿中和法
C.電導(dǎo)滴定法
D.庫(kù)倫分析法
E.色譜法
A.萘
B.苯
C.蒽
D.甲苯
A.利用已知物對(duì)照法定性
B.利用色譜-質(zhì)譜聯(lián)用定性
C.利用文獻(xiàn)保留數(shù)據(jù)定性
D.利用檢測(cè)器的選擇性定性
A.分離有機(jī)化合物
B.依據(jù)保留值作定性分析
C.依據(jù)峰面積作定量分析
D.分離與分析兼有
最新試題
色譜流出曲線圖中的標(biāo)準(zhǔn)差是指正態(tài)色譜峰上兩拐點(diǎn)間距離的一半,其大小反映組分流出色譜柱的離散程度,標(biāo)準(zhǔn)差越大,色譜峰越寬。
色譜流出曲線圖是將待分離組分經(jīng)過(guò)色譜柱的分離后進(jìn)入檢測(cè)器,以檢測(cè)器檢測(cè)到的響應(yīng)信號(hào)為橫坐標(biāo),時(shí)間或流動(dòng)相的體積為縱坐標(biāo)所得的曲線圖。
火焰原子化器是利用火焰的溫度及火焰的氧化還原氣氛,將試樣中待測(cè)元素原子化。
內(nèi)標(biāo)法進(jìn)行氣相色譜定量分析時(shí),內(nèi)標(biāo)物加入量可以隨意加入。
在AAS測(cè)試中,石墨爐原子化時(shí),灰化的的目的是去除基體,尤其是有機(jī)質(zhì)的去除。在不損失待測(cè)原子時(shí),使用盡可能高的溫度和長(zhǎng)的時(shí)間。
在AAS測(cè)試中的化學(xué)干擾可通過(guò)化學(xué)分離,使用高溫火焰,加入釋放劑和保護(hù)劑,加入緩沖劑或基體改進(jìn)劑等方法來(lái)克服。
在AAS測(cè)試中,石墨爐原子化時(shí),凈化溫度應(yīng)高于原子化溫度,凈化的時(shí)間為3~5s,目的是去除試樣殘留物,消除記憶效應(yīng)。
消除AAS測(cè)試中的電離干擾可采用適當(dāng)控制火焰溫度,加入消電離劑(主要為堿金屬元素)等來(lái)抑制待測(cè)原子的電離。
自然變寬和同位素變寬是原子固有的性質(zhì)所引起,可設(shè)法消除。
石墨管式原子化器的檢測(cè)限比火焰原子化器高,注入的試樣幾乎可全部原子化,基態(tài)原子在光路中停留的時(shí)間短。