A、三角架
B、基座
C、望遠(yuǎn)鏡
D、水準(zhǔn)器
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、前視讀數(shù)
B、后視讀數(shù)
C、上視讀數(shù)
D、下視讀數(shù)
A、水準(zhǔn)面法
B、水平面法
C、視線高法
D、高差法
A、視差
B、水準(zhǔn)尺零點(diǎn)誤差
C、儀器下沉誤差
D、讀數(shù)誤差
A、60
B、90
C、120
D、180
A、前視點(diǎn)
B、中間點(diǎn)
C、轉(zhuǎn)點(diǎn)
D、后視點(diǎn)
最新試題
雙面水準(zhǔn)尺中,以下說法正確的是()。
深度基準(zhǔn)面的確定方法有理論深度基準(zhǔn)面、最低水位、()、設(shè)計(jì)水位。
若依次采用元素法、主點(diǎn)法或交點(diǎn)法三種路線定義方法,那么路線定義的最終數(shù)據(jù)為最后采用()的定義方法所得到的有效數(shù)據(jù)。
精密光學(xué)水準(zhǔn)儀的日常保養(yǎng)中,一般使用()擦拭鏡片。
光電測距中對向觀測的作用是減弱大氣折光、()等對測量結(jié)果的影響。
利用偽距作空間交會來定位點(diǎn)位的方法稱為()
精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑,則說明光學(xué)部件有()現(xiàn)象。
偽距測量缺點(diǎn)有時間不宜測準(zhǔn)和()
精密光學(xué)水準(zhǔn)儀測量高程時應(yīng)使用()
RTK測量的基本工作流程中,在至少()個公共點(diǎn)上求WGS 84坐標(biāo)與已知地方坐標(biāo)系之間的轉(zhuǎn)換參數(shù)(即點(diǎn)校正)。