A.其大小與滴汞電位無(wú)關(guān)
B.其大小與被測(cè)離子的濃度有關(guān)
C.其大小主要與支持電解質(zhì)的濃度有關(guān)
D.其大小與滴汞的電位,滴汞的大小有關(guān)
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A.通N2除溶液中的溶解氧
B.加入表面活性劑消除極譜極大
C.恒溫消除由于溫度變化產(chǎn)生的影響
D.在攪拌下進(jìn)行減小濃差極化的影響
A.線性掃描電壓,速度為200mV/min
B.線性掃描電壓,速度為200mV/s
C.線性掃描同時(shí)加上50~250Hz的方波電壓
D.線性掃描同時(shí)在每滴汞的后期加上一個(gè)4~80ms的方波電壓
A.示差脈沖是加一個(gè)等振幅的脈沖電壓,它扣除了直流電壓引起背景電流的影響
B.示差脈沖類似交流極譜,電容電流的影響較大
C.常規(guī)脈沖極譜,電容電流的影響較小
D.示差脈沖僅對(duì)常規(guī)脈沖的結(jié)果進(jìn)行了數(shù)學(xué)上的微分處理
A.電極反應(yīng)速度
B.擴(kuò)散速度
C.電極反應(yīng)與擴(kuò)散速度
D.支持電解質(zhì)的遷移速度
A.被測(cè)離子的濃度
B.支持電解質(zhì)的組成和濃度
C.汞滴下落時(shí)間
D.通氮?dú)鈺r(shí)間
最新試題
氧氮分析儀同碳硫分析儀一樣,都是采用加熱方式來(lái)分解試樣,所以也使用氧氣作載氣。
高純鐵中超低碳硫含量的紅外線吸收法測(cè)定過(guò)程中,陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用,無(wú)需任何預(yù)處理。
原子熒光光譜法制作工作曲線時(shí),相關(guān)系數(shù)應(yīng)至少達(dá)到()。
ICP光譜干擾包括()。
使用CS600測(cè)定純鐵中超低碳硫含量,控制分析空白是關(guān)鍵。
LZ50中氧氮含量的測(cè)定,分析儀器需要配備外循環(huán)冷卻水器或自來(lái)水源。
ICP-AES光源分為四個(gè)區(qū)域,即()。
ICP-AES方法與ICP-MS相比具有的缺點(diǎn)是()。
ICP-AES法中檢出限高低取決于()。
脈沖加熱熔融熱導(dǎo)法測(cè)定鋼鐵中氫含量,分析前應(yīng)用有證標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行檢查和校準(zhǔn)儀器,所用實(shí)物標(biāo)準(zhǔn)的氫含量應(yīng)略大于被分析試樣的含氫量。