消除AAS測試中的電離干擾可采用適當(dāng)控制火焰溫度，加入消電離劑（主要為堿金屬元素）等來抑制待測原子的電離。

在AAS測試中，原子化條件的選擇對測定的靈敏度和準(zhǔn)確度無影響。

在AAS測試中，石墨爐原子化時(shí)，凈化溫度應(yīng)高于原子化溫度，凈化的時(shí)間為3~5s，目的是去除試樣殘留物，消除記憶效應(yīng)。

軟電離離子化能量高，分子離子的碎片信息豐富，提供的分子官能團(tuán)等結(jié)構(gòu)信息。

色譜流出曲線圖中的標(biāo)準(zhǔn)差是指正態(tài)色譜峰上兩拐點(diǎn)間距離的一半，其大小反映組分流出色譜柱的離散程度，標(biāo)準(zhǔn)差越大，色譜峰越寬。

內(nèi)標(biāo)法進(jìn)行氣相色譜定量分析時(shí)，內(nèi)標(biāo)物加入量可以隨意加入。

在AAS測試中，石墨爐原子化時(shí)，灰化的的目的是去除基體，尤其是有機(jī)質(zhì)的去除。在不損失待測原子時(shí)，使用盡可能高的溫度和長的時(shí)間。

程序升溫是一種氣相色譜分析技術(shù)，用于改善組分的分配比、傳質(zhì)速率、分離度、峰型和提高分析速度，以達(dá)到用最短時(shí)間獲得最佳分離的目的。

在AAS測試中的化學(xué)干擾可通過化學(xué)分離，使用高溫火焰，加入釋放劑和保護(hù)劑，加入緩沖劑或基體改進(jìn)劑等方法來克服。

離子選擇性電極的校準(zhǔn)曲線的直線部分所對應(yīng)的離子活度范圍稱為離子選擇性電極的線性范圍。