填空題在FTA樹中,用來表示事件關(guān)系的基本邏輯門符號(hào)有()
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以下對(duì)可靠性實(shí)驗(yàn)敘述錯(cuò)誤的是()
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應(yīng)力分析法適用于電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)開發(fā)的()
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題型:?jiǎn)柎痤}
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用上行法和下行法求最小割集時(shí),可能得到不同的最小割集。
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采用儲(chǔ)備模型可以提高產(chǎn)品的任務(wù)可靠性,但會(huì)降低其基本可靠性
題型:判斷題