A.99.99%
B.95.73%
C.99.73%
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A.超控制
B.超規(guī)范
C.超警戒
A.當(dāng)CHART含蓋混合的工藝設(shè)備輸出,則計(jì)算控制線的數(shù)據(jù)包含所有的設(shè)備輸出
B.當(dāng)過程變差變大時(shí)即可重新計(jì)算控制線
C.計(jì)算控制線時(shí)明顯的異常點(diǎn)(如:數(shù)據(jù)輸錯(cuò),誤操作等)應(yīng)該去除后再算,以免放寬控制線
A.新設(shè)備加入或設(shè)備移出
B.過程波動(dòng)變大
C.規(guī)范更改
A.1點(diǎn)超3sigma和連續(xù)7點(diǎn)在中心值一側(cè)
B.1點(diǎn)超3sigma和3點(diǎn)中有2點(diǎn)在A區(qū)或A區(qū)以外
C.1點(diǎn)超3sigma和連續(xù)7點(diǎn)上升或下降
A.12
B.24
C.48
最新試題
當(dāng)控制計(jì)劃要求對(duì)相關(guān)工序尺寸進(jìn)行SPC統(tǒng)計(jì)過程控制時(shí),公司相關(guān)部門進(jìn)行圖控制并進(jìn)行過程能力研究。
當(dāng)過程能力不足時(shí),為提高過程能力,應(yīng)進(jìn)一步減小普通原因和特殊原因造成的變差。
Ppk用于批量生產(chǎn)時(shí)對(duì)過程能力分析,Cpk用于批產(chǎn)前對(duì)過程能力的分析。
Xbar
當(dāng)X-MR圖中有連續(xù)9個(gè)點(diǎn)落在中心線同一側(cè)時(shí),說明過程處于()
只有超出USL和LSL才需要采取措施。
控制計(jì)劃規(guī)定的特殊特性應(yīng)做統(tǒng)計(jì)過程控制—SPC。
在“3σ”原則下,控制點(diǎn)落在µ-3σ到µ+3σ之間的概率是()
控制限
變差