A.生產(chǎn)的產(chǎn)品質(zhì)量變好
B.生產(chǎn)的產(chǎn)品質(zhì)量變壞
C.質(zhì)量變好或變壞
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A.只存在特殊的影響原因
B.只存在通常的影響原因
C.特殊和通常原因同時存在
A.采用散度控制圖上的Data不失控
B.Data要連續(xù),不考慮是否失控
C.該工序必需為正態(tài)分布
D.可以正態(tài)分布,也可以非正態(tài)分布
A.因果圖
B.控制圖
C.直方圖
D.排列圖
A.平均值的大小
B.標(biāo)準(zhǔn)偏差Std的大小
C.工序能力CPK的大小
D.圖形的分布形狀
最新試題
PPM(質(zhì)量水準(zhǔn),即每百萬零件不合格數(shù))
第Ⅰ類錯誤
過程(Process)
控制限
控制計(jì)劃規(guī)定的特殊特性應(yīng)做統(tǒng)計(jì)過程控制—SPC。
1924年,美國的品管大師休哈特(W.A.Shewhart)博士提出將3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中,并發(fā)表了著名的“控制圖法”(亦稱為:Shewhart控制圖或3σ控制圖。即:一種以實(shí)際產(chǎn)品質(zhì)量特性與依過去經(jīng)驗(yàn)所分析的過程能力的控制界限比較,而以時間順序表示出來的圖形)。通過對過程變差進(jìn)行控制,為統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。
在“3σ”原則下,控制點(diǎn)落在µ-3σ到µ+3σ之間的概率是()
Cpk(穩(wěn)定過程的能力指數(shù))
當(dāng)控制計(jì)劃要求對相關(guān)工序尺寸進(jìn)行SPC統(tǒng)計(jì)過程控制時,公司相關(guān)部門進(jìn)行圖控制并進(jìn)行過程能力研究。
當(dāng)X-MR圖中有連續(xù)9個點(diǎn)落在中心線同一側(cè)時,說明過程處于()