A、DZ-Ⅰ
B、DB-P
C、CS2和CS4
D、CS3和CS4
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A、0.5－1MHz雙晶直探頭
B、1－5MHz雙晶直探頭
C、2.5MHz單晶直探頭
D、5MHz單晶直探頭
A、缺陷第一次反射波F1波幅高于距離－波幅曲線
B、雙晶探頭檢測時，缺陷第一次反射波F1波幅大于或等于顯示屏高度的50%
C、底面第一次反射波B1波幅低于顯示屏高度的50%，即B1＜50%
D、以上都是
A、全面掃查
B、列線掃查
C、格子線掃查
D、中部區(qū)域列線掃查或格子線掃查加坡口預(yù)定線兩側(cè)范圍內(nèi)100%掃查
A、階梯平底試塊
B、φ5平底孔試塊
C、CS2
D、CS3
A、2.5MHz雙晶直探頭
B、4－5MHz雙晶直探頭
C、4－5MHz單晶直探頭
D、5MHz單晶直探頭
最新試題
按照NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，下列哪種試塊屬于標(biāo)準(zhǔn)試塊？（）
按照NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，用K2探頭檢測壁厚為16mm的管子環(huán)向?qū)雍附咏宇^，探頭移動區(qū)的長度為（）
NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，壁厚為4～6mm的鋼制承壓設(shè)備環(huán)向?qū)雍附咏宇^的超聲檢測可參照鋼制鍋爐、壓力容器管子和壓力管道環(huán)向?qū)雍附咏宇^超聲檢測進行。
按照NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，C級檢測與B級檢測的不同之處有（）
NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，在用承壓設(shè)備對接焊接接頭超聲檢測時，對超標(biāo)缺陷和判定為危害性的缺陷，應(yīng)測試其：（）
按照NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，檢測厚度為20mm的鋼板，應(yīng)選用的探頭是（）
NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，距離—波幅曲線繪制在熒光屏上時，在檢測范圍內(nèi)最大聲程處的評定線高度不應(yīng)低于熒光屏滿刻度的20%。
按照NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，對檢測面曲率半徑為50－250mm的縱向?qū)咏宇^和檢測面曲率半徑為80－250mm的環(huán)向?qū)咏宇^超聲檢測，不使用CSK-ⅡA試塊。
按照NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，下面關(guān)于鋼螺栓坯件超聲檢測的敘述，錯誤的是（）
按照NB/T47013.3-2015標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，厚度30mm鍛件超聲檢測，可選用的探頭是（）