判斷題開路磁化不產(chǎn)生退磁場,閉路磁化產(chǎn)生退磁場。
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采用剩磁法時,磁懸液應(yīng)在通電結(jié)束后再施加,一般通電時間為2~3s。
題型:判斷題
根據(jù)JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,磁粉檢測前的工件表面準(zhǔn)備包括打磨表面、安裝接觸墊、封堵盲孔和涂敷反差增強(qiáng)劑。
題型:判斷題
熒光磁粉檢測時,磁痕的評定應(yīng)在暗室或暗處進(jìn)行,暗室或暗處可見光照度應(yīng)不小于20Lx。
題型:判斷題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:直流退磁法是將需退磁工件放入直流磁場中,逐漸減小電流至零。
題型:判斷題
在工件內(nèi)部的剩磁,周向磁化要比縱向磁化大的多。
題型:判斷題
用連續(xù)法檢測時,檢測靈敏度不僅與被檢工件表面磁場強(qiáng)度有關(guān),還受被檢工件材質(zhì)的影響。
題型:判斷題
相關(guān)顯示是由漏磁場吸附磁粉形成的磁痕顯示。
題型:判斷題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:剩磁應(yīng)不大于0.3mT(240A/m)。
題型:判斷題
JB/T4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定:檢測后加熱至600℃以上進(jìn)行熱處理的工件,一般可不進(jìn)行退磁。
題型:判斷題
C型靈敏度試片與A型靈敏度試片使用方法相同,只是C型靈敏度試片能用于狹小部位。
題型:判斷題