A.較低頻率探頭和較粘的耦合劑
B.較低頻率探頭和粘度較小的耦合劑
C.較高頻率探頭和較粘的耦合劑
D.較高頻率探頭和粘度較小的耦合劑
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.50萬輛
B.60萬輛
C.70萬輛
D.90萬輛
A.當(dāng)量法
B.缺陷回波高度法
C.底面回波高度法
D.延伸度定量評(píng)定法
A.是所加電脈沖持續(xù)時(shí)間的函數(shù)
B.是儀器接收器放大特性的函數(shù)
C.是晶片厚度的函數(shù)
D.以上都不對(duì)
A.大于入射角
B.小于入射角
C.等于入射角
D.在臨界角之外
A.入射縱波軸線與通過入射點(diǎn)法線的夾角
B.入射橫波軸線與通過入射點(diǎn)法線的夾角
C.傾斜晶片與探測(cè)面的夾角
D.入射波軸線與界面的夾角
最新試題
對(duì)于平行于檢測(cè)面的缺陷，一般采用（）檢測(cè)。
對(duì)于鉬靶X射線管，在管電壓低于（）千伏時(shí)是不會(huì)產(chǎn)生特征X射線的。
若評(píng)片燈亮度增為原來的兩倍，則底片透光度（It/I0）變?yōu)樵瓉淼模ǎ?/p>
以下試塊中，能用于測(cè)定縱波直探頭分辨力的是（）
一個(gè)均勻的輻射光束強(qiáng)度為I0的射線，穿過一個(gè)厚度為X的物質(zhì)，其強(qiáng)度降低量為I，可用I=-μI0X表示，μ為比例常數(shù)，此式代表什么現(xiàn)象（）
影響較大的散射線通常來自（）
使用變型波檢測(cè)的一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是（）
射線照片上細(xì)節(jié)影像的可識(shí)別性主要決定于（）
發(fā)生康普頓散射的條件是（）
在工作中超聲波檢測(cè)儀屏幕上可能會(huì)出現(xiàn)（）等信號(hào)波，需要仔細(xì)判別。