微電阻率成像測(cè)井按井眼條件選擇扶正器，測(cè)井時(shí)極板壓力（）。

在薄互層中，泥漿侵入對(duì)井壁微電阻率掃描成像測(cè)量響應(yīng)的影響較之厚層（）。

超聲波成像測(cè)井的影響因素為工作頻率、（）、測(cè)量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。

微電阻率成像三井徑曲線變化正常，除橢圓井眼外，在井眼規(guī)則處應(yīng)（）。

多極子陣列聲波測(cè)井首波波至?xí)r間曲線變化形態(tài)應(yīng)（）。

微電阻率成像測(cè)井無效（壞）電極數(shù)不應(yīng)超過（）。

核磁共振測(cè)量結(jié)果幾乎不受（）影響。

微電阻率電成像反映地層特征（裂縫、溶洞、層界面等）清晰，與聲成像具有（）。

脈沖中子能譜測(cè)井儀的主要用途是什么？

水平井中氣水兩相流動(dòng)時(shí)的流型有哪些？