簡述VSP 測井影響因素。

井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測量時，發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的，與介質(zhì)的電阻率（）。

簡述如何根據(jù)聲電成像測井確定現(xiàn)今地應(yīng)力的方向。

VSP 測井是一種高分辨率的（）勘探技術(shù)。

井壁微電阻率掃描成像儀器的電扣越小，分辨率（），井壁電阻率掃描圖像越清晰。

平移斷層斷層面一般較陡，可以是平直的，也可以是彎曲的。平移斷層在剖面上（）。

微電阻率成像測井無效（壞）電極數(shù)不應(yīng)超過（）。

利用多極子聲波測井可以更好地獲得硬地層和軟地層的縱波、橫波和（）等特征參數(shù)。

常規(guī)測井評價復(fù)雜巖性儲層存在的難點有哪些？

在（）的概念中，沉積環(huán)境和沉積巖特征的辯證關(guān)系是：沉積環(huán)境是形成沉積巖特征的決定因素，沉積巖特征則是沉積環(huán)境的物質(zhì)表現(xiàn)。