微電阻率成像測(cè)井無效（壞）電極數(shù)不應(yīng)超過（）。

微電阻率電成像反映地層特征（裂縫、溶洞、層界面等）清晰，與聲成像具有（）。

影響核磁共振測(cè)井的主要因素包括（）、孔隙流體及巖石的潤(rùn)濕性和地層磁化率差異。

（）古潛山是指一定地質(zhì)時(shí)期由褶皺作用形成的古山頭，潛山本身就是一個(gè)背斜。

在薄互層中，泥漿侵入對(duì)井壁微電阻率掃描成像測(cè)量響應(yīng)的影響較之厚層（）。

核磁共振測(cè)量結(jié)果幾乎不受（）影響。

在相同的外加磁場(chǎng)中，不同的原子核的進(jìn)動(dòng)頻率（）。

多極子陣列聲波測(cè)井的重復(fù)測(cè)井與主測(cè)井的波列特征應(yīng)相似，縱波時(shí)差重復(fù)曲線與主測(cè)井曲線形狀相同，重復(fù)測(cè)量值相對(duì)重復(fù)誤差應(yīng)小于（）。

簡(jiǎn)述如何根據(jù)聲電成像測(cè)井確定現(xiàn)今地應(yīng)力的方向。

泥質(zhì)砂巖地層核磁有效孔隙度應(yīng)小于或等于（）孔隙度。