單項(xiàng)選擇題不會(huì)造成測(cè)井深度差異的因素是（）。
A.各次測(cè)量電纜受力不同
B.井口置零不當(dāng)
C.探測(cè)儀記錄點(diǎn)的深度延遲計(jì)算有誤
D.各種測(cè)井曲線的測(cè)量原理不同
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1.單項(xiàng)選擇題測(cè)井過(guò)程中，各次測(cè)量的曲線經(jīng)常在深度產(chǎn)生不同程度的相對(duì)錯(cuò)動(dòng)，其原因不包括（）。
A.下井儀器的重量
B.儀器與井壁的接觸狀態(tài)
C.測(cè)速
D.儀器的工作狀態(tài)
2.單項(xiàng)選擇題由于輸入測(cè)井曲線之間深度不匹配，可使計(jì)算機(jī)的輸出結(jié)果失去應(yīng)有的（）。
A.地質(zhì)意義
B.匹配關(guān)系
C.組合
D.位置
3.單項(xiàng)選擇題輸入的測(cè)井曲線深度不一致，對(duì)不均質(zhì)薄層的影響比均質(zhì)厚層（）。
A.相差不大
B.嚴(yán)重
C.小
D.穩(wěn)定
4.單項(xiàng)選擇題在砂泥巖剖面中，致密碳酸鹽巖薄夾層的（）曲線不呈現(xiàn)尖峰狀。
A.微電極
B.底部梯度電阻率曲線
C.聲波
D.自然電位
5.單項(xiàng)選擇題測(cè)井曲線的（）是進(jìn)行相對(duì)深度校正的基礎(chǔ)。
A.穩(wěn)定性
B.相關(guān)性
C.電阻率
D.致密尖
最新試題
微電阻率電成像反映地層特征（裂縫、溶洞、層界面等）清晰，與聲成像具有（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
簡(jiǎn)述VSP 測(cè)井影響因素。
題型：?jiǎn)柎痤}
平移斷層斷層面一般較陡，可以是平直的，也可以是彎曲的。平移斷層在剖面上（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在薄互層中，泥漿侵入對(duì)井壁微電阻率掃描成像測(cè)量響應(yīng)的影響較之厚層（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
在相同的外加磁場(chǎng)中，不同的原子核的進(jìn)動(dòng)頻率（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
VSP 測(cè)井是一種高分辨率的（）勘探技術(shù)。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
多極子陣列聲波測(cè)井的重復(fù)測(cè)井與主測(cè)井的波列特征應(yīng)相似，縱波時(shí)差重復(fù)曲線與主測(cè)井曲線形狀相同，重復(fù)測(cè)量值相對(duì)重復(fù)誤差應(yīng)小于（）。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
簡(jiǎn)述如何根據(jù)聲電成像測(cè)井確定現(xiàn)今地應(yīng)力的方向。
題型：?jiǎn)柎痤}
泥質(zhì)砂巖地層核磁有效孔隙度應(yīng)小于或等于（）孔隙度。
題型：?jiǎn)雾?xiàng)選擇題
脈沖中子能譜測(cè)井儀的主要用途是什么？
題型：?jiǎn)柎痤}