A.大于0.5,大于0.25
B.為0.5~0.0002,為0.25~0.0001
C.為0.5~0.002,為0.25~0.001
D.為0.01~0.001,為0.1~0.0002
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A.大于0.5,大于0.25
B.為0.5~0.0002,為0.25~0.0001
C.為0.5~0.002,為0.25~0.001
D.為0.01~0.001,為0.1~0.0002
A.溶蝕孔隙
B.微孔隙
C.粒間孔隙
D.微裂縫
A.溶蝕孔隙
B.微孔隙
C.粒間孔隙
D.微裂縫
A.原生孔隙
B.次生孔隙
C.粒間孔隙
D.溶蝕孔隙
A.粒間孔隙、微孔隙、溶蝕孔隙、微裂縫
B.粒間孔隙、有效孔隙、微孔隙、微裂縫
C.粒間孔隙、微孔隙、總孔隙、此生孔隙
D.原生孔隙、此生孔隙、粒間孔隙、微孔隙
最新試題
非彈性—俘獲模式主要記錄的地層信息有哪些?
泥質(zhì)砂巖地層核磁有效孔隙度應(yīng)小于或等于()孔隙度。
多極子陣列聲波測(cè)井的重復(fù)測(cè)井與主測(cè)井的波列特征應(yīng)相似,縱波時(shí)差重復(fù)曲線與主測(cè)井曲線形狀相同,重復(fù)測(cè)量值相對(duì)重復(fù)誤差應(yīng)小于()。
影響核磁共振測(cè)井的主要因素包括()、孔隙流體及巖石的潤(rùn)濕性和地層磁化率差異。
井壁微電阻率掃描成像儀器的電扣越小,分辨率(),井壁電阻率掃描圖像越清晰。
核磁共振測(cè)井時(shí),當(dāng)?shù)貙涌紫抖炔恍∮?5%時(shí),孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的相對(duì)誤差()10%。
超聲波成像測(cè)井的影響因素為工作頻率、()、測(cè)量距離、目的層的表面結(jié)構(gòu)、目的層的傾角和巖石的波阻抗差異。
微電阻率成像測(cè)井無(wú)效(壞)電極數(shù)不應(yīng)超過(guò)()。
()古潛山是指一定地質(zhì)時(shí)期由褶皺作用形成的古山頭,潛山本身就是一個(gè)背斜。
孔隙充滿液體的較純砂巖地層:核磁()近似等于密度/中子交會(huì)孔隙度。