A.射孔段
B.腐蝕
C.變形
D.磨損
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.套管變形
B.套管腐蝕
C.套管磨損
D.套管積蠟
A.最大井徑大于最小井徑
B.最大井徑小于最小井徑
C.最大井徑等于最小井徑
D.最大井徑不等于最小井徑
A.最大半徑小于套管標(biāo)稱半徑
B.最大半徑大于套管標(biāo)稱半徑
C.最小半徑小于套管標(biāo)稱半徑
D.最小半徑大于套管標(biāo)稱半徑
A.套管標(biāo)稱半徑小于最大半徑,最小半徑小于標(biāo)稱半徑
B.套管標(biāo)稱半徑小于最大半徑,而最小半徑大于標(biāo)稱半徑
C.套管標(biāo)稱半徑大于最大半徑,而最小半徑小于標(biāo)稱半徑
D.套管標(biāo)稱半徑大于最大半徑,而最小半徑大于標(biāo)稱半徑
A.最大半徑變大,最小半徑變小
B.最大半徑變大,最小半徑變大
C.最大半徑變小,最小半徑變小
D.最大半徑變小,最小半徑變大
最新試題
井壁微電阻率掃描成像儀器的電扣越小,分辨率(),井壁電阻率掃描圖像越清晰。
井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測(cè)量時(shí),發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線總是相似的,與介質(zhì)的電阻率()。
多極子陣列聲波測(cè)井首波波至?xí)r間曲線變化形態(tài)應(yīng)()。
井壁微電阻率掃描成像儀極板和井壁的間隙增大會(huì)()儀器的垂向分辨率。
孔隙充滿液體的較純砂巖地層:核磁()近似等于密度/中子交會(huì)孔隙度。
當(dāng)?shù)貙涌紫抖刃∮?5%時(shí),孔隙度曲線重復(fù)測(cè)量值的絕對(duì)誤差小于()。
VSP 測(cè)井是一種高分辨率的()勘探技術(shù)。
脈沖中子能譜測(cè)井儀的主要用途是什么?
微電阻率成像測(cè)井無效(壞)電極數(shù)不應(yīng)超過()。
泥漿濾液的侵入使孔隙流體發(fā)生了改變,當(dāng)濾液中含有順磁物質(zhì)時(shí)會(huì)()橫向弛豫時(shí)。