單項(xiàng)選擇題DL/T821-2002規(guī)定,底片有效評(píng)定范圍內(nèi)的黑度為()

A.X射線應(yīng)在1.5-3.5范圍內(nèi),γ射線應(yīng)在1.8-3.5范圍內(nèi)
B.X射線應(yīng)在1.5-3.5范圍內(nèi),γ射線應(yīng)在2.0-3.5范圍內(nèi)
C.X射線應(yīng)在1.5-3.0范圍內(nèi),γ射線應(yīng)在2.0-4.0范圍內(nèi)
D.X射線應(yīng)在1.5-3.0范圍內(nèi),γ射線應(yīng)在1.8-3.5范圍內(nèi)


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1.單項(xiàng)選擇題DL/T821-2002規(guī)定,對(duì)外徑大于76mm且小于或等于89mm的管子,其焊縫采用雙壁雙投影法透照時(shí),應(yīng)()

A.分三次透照,兩次間隔120°
B.分倆次透照,兩次間隔90°
C.分四次透照,兩次間隔90°
D.不分段,允許一次橢圓成像透照

2.單項(xiàng)選擇題Ir192的半衰期為()

A.5.3年
B.75天
C.130天
D.30年

3.單項(xiàng)選擇題與X射線相比,γ射線探傷優(yōu)點(diǎn)是()

A.設(shè)備簡(jiǎn)單
B.設(shè)備體積小
C.不用電源
D.以上全部

4.單項(xiàng)選擇題圓形缺陷用評(píng)定框尺進(jìn)行評(píng)定,框尺的長(zhǎng)邊應(yīng)()

A.與焊縫方向平行
B.與焊縫成任意角度
C.與焊縫方向垂直
D.以上均可

5.單項(xiàng)選擇題盛放顯影液的顯影槽不用時(shí)應(yīng)用蓋蓋好,這主要是為了()

A.防止藥液氧化
B.防止落進(jìn)灰塵
C.防止水分蒸發(fā)
D.防止溫度變化

最新試題

底片或電子圖片、X射線照相檢驗(yàn)記錄、射線檢測(cè)報(bào)告副本、檢測(cè)報(bào)告等及臺(tái)帳由X光透視人員負(fù)責(zé)管理。

題型:判斷題

探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即()。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家()

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

按輻射安全管理規(guī)定,輻射作業(yè)場(chǎng)所每周應(yīng)進(jìn)行一次輻射劑量檢測(cè)。

題型:判斷題

在射線照相檢驗(yàn)中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。

題型:判斷題

補(bǔ)焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗(yàn)負(fù)責(zé),對(duì)兩個(gè)補(bǔ)焊區(qū)交界部位補(bǔ)焊次數(shù)的界定,需要通過(guò)底片觀察提供幫助時(shí),X光室應(yīng)予以配合。

題型:判斷題

缺陷分類(lèi)應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求,標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷,必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考,但不作為合格與否判定的依據(jù)。

題型:判斷題

射線檢測(cè)最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。

題型:?jiǎn)雾?xiàng)選擇題

超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請(qǐng)、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測(cè)。

題型:判斷題

一次完整的補(bǔ)焊過(guò)程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。

題型:判斷題