A.地層波
B.鉆井液波
C.直達(dá)波
D.滑行波
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A.5%
B.10%
C.15%
D.20%
A.5%
B.10%
C.15%
D.20%
A.泥巖
B.砂巖
C.灰?guī)r
D.白云巖
A.5
B.10
C.15
D.20
A.1.32~1.36
B.1.07~1.11
C.1.55~1.59
D.1.36~1.40
最新試題
當(dāng)水體漸進(jìn)時(shí),沉積范圍逐漸擴(kuò)大,較新沉積層覆蓋了較老沉積層,并向陸地?cái)U(kuò)展,與更老的地層侵蝕面成不整合接觸,在柱狀剖面上,表現(xiàn)為下粗上細(xì)特征,這種現(xiàn)象稱(chēng)為()。
在相同的外加磁場(chǎng)中,不同的原子核的進(jìn)動(dòng)頻率()。
當(dāng)?shù)貙涌紫抖刃∮?5%時(shí),孔隙度曲線(xiàn)重復(fù)測(cè)量值的絕對(duì)誤差小于()。
在薄互層中,泥漿侵入對(duì)井壁微電阻率掃描成像測(cè)量響應(yīng)的影響較之厚層()。
泥質(zhì)砂巖地層核磁有效孔隙度應(yīng)小于或等于()孔隙度。
多極子陣列聲波測(cè)井的重復(fù)測(cè)井與主測(cè)井的波列特征應(yīng)相似,縱波時(shí)差重復(fù)曲線(xiàn)與主測(cè)井曲線(xiàn)形狀相同,重復(fù)測(cè)量值相對(duì)重復(fù)誤差應(yīng)小于()。
簡(jiǎn)述VSP 測(cè)井影響因素。
平移斷層斷層面一般較陡,可以是平直的,也可以是彎曲的。平移斷層在剖面上()。
微電阻率成像測(cè)井按井眼條件選擇扶正器,測(cè)井時(shí)極板壓力()。
井壁微電阻率掃描成像儀器在均勻介質(zhì)中測(cè)量時(shí),發(fā)自極板體的電扣電流和推靠器中心支架棒上的聚焦電流構(gòu)成的電流線(xiàn)總是相似的,與介質(zhì)的電阻率()。