A.受檢件的熱處理狀態(tài)、表面狀態(tài)、可能的加工余量；
B.受檢件的材料牌號(hào)、制造工藝、尺寸；
C.受檢件受力方向、影響使用性能的缺陷種類及形成原因；
D.受檢件材料及形狀、缺陷位置及取向、驗(yàn)收要求。
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A.平底孔
B.V型槽
C.橫通孔
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A.堿性類
B.甘油類
C.硅基類
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C.硅基類
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最新試題
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè)，儀器顯示缺陷的聲程為S，則缺陷的水平距離l為（）。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法，下面說法錯(cuò)誤的是（）。
超聲檢測(cè)系統(tǒng)的靈敏度余量（）。
調(diào)整檢測(cè)靈敏度的目的在于檢測(cè)出工件中規(guī)定大小的缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行（）。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件（）、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí)，需要進(jìn)行傳輸修正。
實(shí)際檢測(cè)中，為了提高掃查速度而又不引起漏檢，常將檢測(cè)靈敏度適當(dāng)提高，這種在檢測(cè)靈敏度基礎(chǔ)上適當(dāng)提高后的靈敏度叫做（）。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前，必須先調(diào)節(jié)（）。
（）主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測(cè)。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí)，適用的工件厚度為（）。
（）可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。