單項選擇題單晶片直探頭接觸法探傷中,與探測面十分接近的缺陷往往不能有效地檢出,這是因為()

A.近場干擾
B.材質衰減
C.盲區(qū)
D.折射


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1.單項選擇題儀器的垂直線性好壞會影響()

A.缺陷的當量比較
B.AVG曲線面板的使用
C.缺陷的定位
D.以上都對

2.單項選擇題儀器水平線性的好壞直接影響()

A.缺陷性質判斷
B.缺陷大小判斷
C.缺陷的精確定位
D.以上都對

3.單項選擇題探頭上標的2.5MHZ是指()

A.重復頻率
B.工作頻率
C.觸發(fā)脈沖頻率
D.以上都不對

5.單項選擇題與超聲頻率無關的衰減方式是()

A.擴散衰減
B.散射衰減
C.吸收衰減
D.以上都是