A.不合格
B.合格
C.良好
D.優(yōu)秀
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A.t分布有一個(gè)拐點(diǎn)
B.t分布與標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布的圖型特征相同
C.標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布是t分布的特殊形式
D.可用于根據(jù)小樣本來估計(jì)呈正態(tài)分布且方差未知的總體的均值
A.加修正值
B.乘修正因子
C.給出中位值
D.通過修正曲線或修正值表計(jì)算
A.找到實(shí)際原因時(shí)修正離群值，否則予以保留
B.剔除離群值，不追加觀測(cè)值
C.剔除離群值，追加新的觀測(cè)值或適宜的插補(bǔ)替代
D.將離群值修正為樣本平均值
A.靜態(tài)回彈彎沉
B.靜態(tài)總彎沉
C.動(dòng)態(tài)回彈彎沉
D.動(dòng)態(tài)總彎沉
A.靜態(tài)回彈彎沉
B.靜態(tài)總彎沉
C.動(dòng)態(tài)回彈彎沉
D.動(dòng)態(tài)總彎沉
最新試題
探傷人員在透視間內(nèi)發(fā)現(xiàn)輻射正在進(jìn)行應(yīng)立即（）。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同，相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù)．但不少于透照次數(shù)的三分之一。
射線檢測(cè)最有害的危險(xiǎn)源是（），必須嚴(yán)加控制。
下面給出的射線檢測(cè)基本原理中，正確的是（）。
一次完整的補(bǔ)焊過程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù)，直至缺陷完全排除。
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查，并出具X光底片復(fù)查報(bào)告，復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。
對(duì)于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫，采用的透照方式為（）。
缺陷分類應(yīng)符合驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)的要求，標(biāo)準(zhǔn)未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗(yàn)范疇的缺陷，必要時(shí)可予以注明供有關(guān)人員參考，但不作為合格與否判定的依據(jù)。
對(duì)含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管，影響其阻抗變化的因素有（）