A.對(duì)零件的使用無影響
B.重新檢驗(yàn)，以確定是否存在真實(shí)缺陷
C.必須完全去除
D.考慮A和B
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A.指人工缺陷造成的磁痕
B.指在沒有缺陷處出現(xiàn)的磁痕
C.探傷條件相同時(shí)，如果在每一試件的相同部位出現(xiàn)同樣的磁粉顯示，這樣的磁痕就不會(huì)是假磁痕
A.它出現(xiàn)于磁導(dǎo)率不同的分界線上
B.由被磁化的試件與未磁化的試件接觸而引起
C.由于磁化磁場(chǎng)過強(qiáng)而引起
D.由于磁化電流太大而引起
E.由于被磁化的試件相互接觸而造成
F.E和B
A.凡有磁痕的部位都是缺陷部位
B.雖然沒有缺陷，有時(shí)也會(huì)出現(xiàn)類似缺陷的磁痕
C.當(dāng)發(fā)現(xiàn)磁痕時(shí)，必須觀察其表面狀態(tài)及表層下結(jié)構(gòu)，以免誤碼判
D.為確定磁痕是否缺陷引起，有時(shí)需檢驗(yàn)其重復(fù)性
E.除A以外都對(duì)
A.用較高的安培值重新磁化
B.用較低的安培值重新磁化
C.退磁
D.A和C
A.清晰和明顯
B.寬和不清晰
C.轉(zhuǎn)折交錯(cuò)
D.高和模糊
最新試題
整流電流中包含的交流分量愈大，檢測(cè)近表面缺陷的能力愈小。
以下關(guān)于感應(yīng)電流磁化法的敘述，錯(cuò)誤的是（）。
退磁場(chǎng)大小與工件形狀有關(guān)，與外加磁場(chǎng)無關(guān)。
以下關(guān)于直流或三相全波整流電特點(diǎn)的敘述，錯(cuò)誤的是（）。
熒光磁粉探傷過程中，當(dāng)不觀察磁痕時(shí)應(yīng)隨時(shí)關(guān)閉黑光燈，這樣可延長(zhǎng)黑光燈使用壽命，并可避免誤照人眼。
JB3965-85中規(guī)定，磁痕線性顯示是指長(zhǎng)度大于寬度的兩倍
ZBJ04006-87《鋼鐵材料的磁粉探傷方法》標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：采用電磁鐵進(jìn)行磁軛法探傷時(shí)，當(dāng)磁極間距為75-150mm時(shí)，用直流磁化時(shí)的提升力應(yīng)大于（）N或（），用交流電磁化時(shí)的提升力應(yīng)大于（）N或（）
以下關(guān)于交變電流趨膚效應(yīng)的敘述，錯(cuò)誤的是（）。
利用磁敏元件探測(cè)工件表面漏磁場(chǎng)時(shí)，探測(cè)的靈敏度與檢查速度及工件大小無關(guān)。
以下磁痕顯示中，屬于相關(guān)顯示的是（）。