造成常規(guī)隨鉆測(cè)井資料中，曲線間出現(xiàn)深度誤差的原因有哪些？

微球形聚焦測(cè)井資料主要用途有（）

簡(jiǎn)述測(cè)井作業(yè)現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制對(duì)曲線精度的要求。

形成井漏的必要條件有哪些（）

隨鉆測(cè)壓中，（）壓力測(cè)試期間無(wú)壓降或微弱壓降，壓力值保持為鉆井液靜液柱壓力，該類型點(diǎn)不能用于解釋分析。

感應(yīng)測(cè)井儀器在儲(chǔ)層電阻率低于20Ω·m時(shí)響應(yīng)較好，適應(yīng)于（）

對(duì)于雙側(cè)向儀器EDLT，下列說(shuō)法正確的是（）

隨鉆測(cè)壓的資料可用于確定（）

貝克休斯隨鉆高分辨電阻率成像StarTrak電阻率探測(cè)深度可達(dá)到（）in。

隨鉆測(cè)壓中，（）壓力恢復(fù)緩慢，壓力值難以恢復(fù)到正常地層壓力值，該類型點(diǎn)不能反映地層壓力。