A.光譜干擾
B.熒光猝滅干擾
C.化學(xué)干擾
D.電離干擾
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A.減少散射光干擾主要減少散射微粒
B.選擇靈敏度高干擾小的直躍線熒光或階躍線熒光線進(jìn)行測(cè)定是消除散射光干擾最有效方法
C.當(dāng)散射光干擾嚴(yán)重時(shí)可用空白溶液測(cè)定分析線處的散射光強(qiáng)度予以校正
D.熒光猝滅干擾是指受輻射激發(fā)的原子與氣體分子發(fā)生碰撞所引起的熒光強(qiáng)度升高的現(xiàn)象
A.燈電流過(guò)大會(huì)影響檢出限和穩(wěn)定性
B.在滿足分析靈敏度條件下不宜設(shè)置過(guò)高負(fù)高壓
C.載氣流量過(guò)小火焰不穩(wěn)定測(cè)定重現(xiàn)性差
D.火焰自下而上是干燥區(qū)原子化器蒸發(fā)區(qū)電離化合區(qū)
A.光源原子化器檢測(cè)器三者處于直角狀態(tài)
B.更換元素?zé)魯嚅_電源
C.根據(jù)有無(wú)色散系統(tǒng)將分光系統(tǒng)分為色散型和非色散型兩類
D.非色散型分光系統(tǒng)不可做多元素同時(shí)測(cè)定
A.直躍線熒光
B.階躍線熒光
C.反斯托克熒光
D.飽和熒光
A.標(biāo)準(zhǔn)曲線法
B.標(biāo)準(zhǔn)比較法
C.標(biāo)準(zhǔn)加入法
D.內(nèi)標(biāo)法
最新試題
質(zhì)譜儀中真空系統(tǒng)的作用是使離子在真空狀態(tài)下從離子源到達(dá)檢測(cè)器。
高壓梯度（內(nèi)梯度）洗脫是將溶劑用高壓泵增壓后輸入色譜系統(tǒng)的梯度混合室，加以混合后送入色譜柱的過(guò)程。
火焰原子化器是利用火焰的溫度及火焰的氧化還原氣氛，將試樣中待測(cè)元素原子化。
在AAS測(cè)試中，原子化條件的選擇對(duì)測(cè)定的靈敏度和準(zhǔn)確度無(wú)影響。
色譜流出曲線圖是將待分離組分經(jīng)過(guò)色譜柱的分離后進(jìn)入檢測(cè)器，以檢測(cè)器檢測(cè)到的響應(yīng)信號(hào)為橫坐標(biāo)，時(shí)間或流動(dòng)相的體積為縱坐標(biāo)所得的曲線圖。
氣-液氣相色譜分離試樣的過(guò)程是試樣中各組分在流動(dòng)相與固定液上的分配和再分配的多次反復(fù)。
內(nèi)標(biāo)法進(jìn)行氣相色譜定量分析時(shí)，內(nèi)標(biāo)物的色譜峰必須與各個(gè)組分的色譜峰完全分離。
在AAS測(cè)試中，石墨爐原子化時(shí)，凈化溫度應(yīng)高于原子化溫度，凈化的時(shí)間為3~5s，目的是去除試樣殘留物，消除記憶效應(yīng)。
消除AAS測(cè)試中的電離干擾可采用適當(dāng)控制火焰溫度，加入消電離劑（主要為堿金屬元素）等來(lái)抑制待測(cè)原子的電離。
自然變寬是指無(wú)外界因素影響時(shí)譜線具有的寬度，該寬度比光譜儀本身產(chǎn)生的寬度要小得多，只有極高分辨率的儀器才能測(cè)出，故可忽略不計(jì)。