采用加速壽命試驗(yàn)應(yīng)注意：（）和（）

設(shè)有一可修復(fù)的電子產(chǎn)品工作10000h，累計(jì)發(fā)生4次故障，則該產(chǎn)品的MTBF約為（）

以下對(duì)可靠性實(shí)驗(yàn)敘述錯(cuò)誤的是（）

故障樹(shù)分析是用一系列（）和轉(zhuǎn)移符號(hào)描述系統(tǒng)中各種事件之間的因果關(guān)系中各種事件之間的因果關(guān)系的。

在嚴(yán)重度矩陣中以（）作為橫坐標(biāo)，以（）為縱坐標(biāo)。

某系統(tǒng)由三個(gè)電容器并聯(lián)而成，假定選定失效模式是電容短路，則系統(tǒng)的可靠性邏輯圖是串聯(lián)的。

采用儲(chǔ)備模型可以提高產(chǎn)品的任務(wù)可靠性，但會(huì)降低其基本可靠性

為了驗(yàn)證開(kāi)發(fā)的產(chǎn)品的可靠性是否與規(guī)定的可靠性要求一致，用具有代表性的產(chǎn)品在規(guī)定的條件下所做的試驗(yàn)叫（）試驗(yàn)。

可靠性試驗(yàn)可以分為工程試驗(yàn)和（）

一個(gè)機(jī)械電子系統(tǒng)包括一部雷達(dá)，一臺(tái)計(jì)算機(jī)，一個(gè)輔助設(shè)備，其壽命都服從指數(shù)分布。其MTBF分別為100小時(shí)，200小時(shí)和100小時(shí)，則系統(tǒng)的MTBF為（）