在故障樹(shù)分析中，設(shè)各底事件出現(xiàn)在其中的最小割集階數(shù)為α，在全部最小割集中出現(xiàn)的次數(shù)為n，該底事件重要程度為C，那么下面說(shuō)法正確的是（）

用上行法和下行法求最小割集時(shí)，可能得到不同的最小割集。

四個(gè)壽命分布為指數(shù)分布的獨(dú)立單元構(gòu)成一個(gè)串聯(lián)系統(tǒng)，每個(gè)單元的MTBF分別為：300、500、250和150小時(shí)。若要求新系統(tǒng)的MTBF為10小時(shí)，試按比例將MTBF分至各單元，并計(jì)算新系統(tǒng)各單元工作10小時(shí)時(shí)的系統(tǒng)可靠度。

對(duì)產(chǎn)品應(yīng)用抽樣方法檢驗(yàn)時(shí)，母體的合格率不達(dá)標(biāo)，子樣的合格率就必定不達(dá)標(biāo)

我們之所以對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行可靠性預(yù)判與分配，是因?yàn)楫a(chǎn)品的可靠性高低取決于其本身而不是論證。

可靠性試驗(yàn)可以分為工程試驗(yàn)和（）

系統(tǒng)可靠性框圖如下所示：要求：1）畫(huà)出相應(yīng)的故障樹(shù)，寫(xiě)出最小割集表達(dá)式；2）計(jì)算各底事件的結(jié)構(gòu)重要度并給出分析結(jié)論。

故障樹(shù)分析是用一系列（）和轉(zhuǎn)移符號(hào)描述系統(tǒng)中各種事件之間的因果關(guān)系中各種事件之間的因果關(guān)系的。

應(yīng)力分析法適用于電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)的（）

工程中常用的失效分布類(lèi)型有：（）、（）和（）