采用加速壽命試驗(yàn)應(yīng)注意：（）和（）

設(shè)有一可修復(fù)的電子產(chǎn)品工作10000h，累計(jì)發(fā)生4次故障，則該產(chǎn)品的MTBF約為（）

應(yīng)力分析法適用于電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)開發(fā)的（）

已知某系統(tǒng)故障的故障樹如下圖所示，其元件MTBF均為2000小時(shí)，服從指數(shù)分布。1）求出最小割集；2）預(yù)計(jì)該系統(tǒng)工作100小時(shí)的可靠度。

什么是失效？什么是失效模式？研究產(chǎn)品失效的方法主要有哪幾種？

為了驗(yàn)證開發(fā)的產(chǎn)品的可靠性是否與規(guī)定的可靠性要求一致，用具有代表性的產(chǎn)品在規(guī)定的條件下所做的試驗(yàn)叫（）試驗(yàn)。

下圖為典型產(chǎn)品的故障率曲線，試說明各階段的產(chǎn)品失效原因。

系統(tǒng)可靠性框圖如下所示：要求：1）畫出相應(yīng)的故障樹，寫出最小割集表達(dá)式；2）計(jì)算各底事件的結(jié)構(gòu)重要度并給出分析結(jié)論。

采用儲(chǔ)備模型可以提高產(chǎn)品的任務(wù)可靠性，但會(huì)降低其基本可靠性

我們之所以對產(chǎn)品進(jìn)行可靠性預(yù)判與分配，是因?yàn)楫a(chǎn)品的可靠性高低取決于其本身而不是論證。