產(chǎn)品可靠性與（）無(wú)關(guān)。

下列關(guān)于可維護(hù)性的陳述當(dāng)中哪一個(gè)是真實(shí)的（）

四個(gè)壽命分布為指數(shù)分布的獨(dú)立單元構(gòu)成一個(gè)串聯(lián)系統(tǒng)，每個(gè)單元的MTBF分別為：300、500、250和150小時(shí)。若要求新系統(tǒng)的MTBF為10小時(shí)，試按比例將MTBF分至各單元，并計(jì)算新系統(tǒng)各單元工作10小時(shí)時(shí)的系統(tǒng)可靠度。

在故障樹(shù)分析中，設(shè)各底事件出現(xiàn)在其中的最小割集階數(shù)為α，在全部最小割集中出現(xiàn)的次數(shù)為n，該底事件重要程度為C，那么下面說(shuō)法正確的是（）

應(yīng)力分析法適用于電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)的（）

可靠性試驗(yàn)中，環(huán)境應(yīng)力篩選最有效辦法是：（）和（）

圖（a）、（b）兩部分是等價(jià)的嗎？當(dāng)表決器可靠度為1，組成單元的故障率均為常值λ時(shí)，請(qǐng)推導(dǎo)出三中取二系統(tǒng)的可靠度和MTBCF表達(dá)式。

可靠性預(yù)測(cè)與分配的目的是確定產(chǎn)品的可靠度

用上行法和下行法求最小割集時(shí)，可能得到不同的最小割集。

對(duì)產(chǎn)品應(yīng)用抽樣方法檢驗(yàn)時(shí)，母體的合格率不達(dá)標(biāo)，子樣的合格率就必定不達(dá)標(biāo)