A、碘化銫晶體和蓋革管
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C、碘化銫晶體和光電倍增管
D、閃爍晶體和光電倍增管
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A、研究地層構(gòu)造
B、進(jìn)行地層對(duì)比
C、測(cè)量地層孔隙度
D、測(cè)量地層滲透率
A、鉀族和鈾族
B、鈾族和釷族
C、鉀族和釷族
D、鉀族、鈾族和釷族
A、鉀
B、釷
C、銫
D、鈾
A、閃爍晶體
B、分頻器
C、電纜驅(qū)動(dòng)器
D、脈沖幅度鑒別器
A、高壓交流
B、低壓直流
C、低壓交流
D、電池
最新試題
微球形聚焦測(cè)井資料主要用途有()
對(duì)于雙側(cè)向儀器EDLT,下列說法正確的是()
MREX分為三種測(cè)量模式,分別是()
電纜測(cè)井事故預(yù)防有哪些措施?
貝克休斯隨鉆高分辨電阻率成像StarTrak電阻率探測(cè)深度可達(dá)到()in。
電纜測(cè)井事故的原因主要有哪些?
假設(shè)某隨鉆測(cè)井儀器采樣時(shí)間為6s,如果內(nèi)存數(shù)據(jù)按照每隔半英尺一個(gè)測(cè)井?dāng)?shù)據(jù)點(diǎn)計(jì)算,要保證該工具內(nèi)存數(shù)據(jù)的完整準(zhǔn)確,該工具的測(cè)井最高速度應(yīng)為()m/h。
隨鉆測(cè)壓中,()恢復(fù)壓力值接近于鉆井液柱壓力或明顯高于相鄰有效點(diǎn)壓力。
感應(yīng)測(cè)井儀器在儲(chǔ)層電阻率低于20Ω·m時(shí)響應(yīng)較好,適應(yīng)于()
造成常規(guī)隨鉆測(cè)井資料中,曲線間出現(xiàn)深度誤差的原因有哪些?