問(wèn)答題透照厚試件時(shí)，放在試件焦點(diǎn)側(cè)表面的金屬絲象質(zhì)計(jì)可識(shí)別的最小線徑為0.5mm，此時(shí)散射比為3.5，然后利用鉛光闌和屏蔽板使散射比為1.5，再攝一張黑度相同的底片，此時(shí)可識(shí)別的象質(zhì)計(jì)最小線徑為多少？（已知直徑d與最小可見(jiàn)度△Dmin在d=0.1～0.5mm范圍內(nèi)有下式之關(guān)系：△Dmin=C•d-2/3，C為常數(shù)，又假定焦點(diǎn)尺寸影響可忽略，Χ射線機(jī)、管電壓、管電流、焦距、膠片及增感屏均不變。）
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下列哪種不是射線照相法的特點(diǎn)（）
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有關(guān)射線膠片特性的敘述，正確的是（）
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X射線照相時(shí)，設(shè)焦距為650mm，陽(yáng)極靶與管軸線傾角為20°，則其輻射場(chǎng)直徑為（）
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在同樣的X射線管電流下，管電壓增加，則（）
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射線檢測(cè)裂紋和其與裂紋的角度的關(guān)系是（）
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為了提高橫向缺陷檢出率，射線照相應(yīng)該采取下列中的哪個(gè)措施（）
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