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問(wèn)答題為什么用X射線粉末法測(cè)定晶胞參數(shù)時(shí)常用高角度數(shù)據(jù)（有時(shí)還根據(jù)高角度數(shù)據(jù)外推至θ=90°），而測(cè)定超細(xì)晶粒的結(jié)構(gòu)時(shí)要用低角度數(shù)據(jù)（小角散射）？

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1.問(wèn)答題寫出Bragg方程的兩種表達(dá)形式，說(shuō)明（hkl）與hkl，d_（hkl）與d_（hkl）之間的關(guān)系以及衍射角θ_n隨衍射級(jí)數(shù)n的變化。

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2.問(wèn)答題 在直徑為57.3mm的相機(jī)中，用CuKα射線拍金屬銅的粉末圖。從圖上量得8對(duì)粉末線的2L值為：44.0，51.4，75.4，90.4，95.6，117.4，137.0，145.6mm。試計(jì)算下表各欄數(shù)值，求出晶胞參數(shù)，確定晶體點(diǎn)陣型式。

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3.問(wèn)答題金屬鎳的立方晶胞參數(shù)a=352.4pm，試求d₂₀₀，d₁₁₁，d₂₂₀。

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4.問(wèn)答題 標(biāo)出下面點(diǎn)陣結(jié)構(gòu)的晶體指標(biāo)。每組面話出3條相鄰的直線表示。

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5.問(wèn)答題寫出在3個(gè)坐標(biāo)軸上的截距分別為-2a，-3b和-3c的點(diǎn)陣面的指標(biāo)；寫出指標(biāo)為（321）的點(diǎn)陣面在3個(gè)坐標(biāo)軸上的截距之比。

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