A. Ⅰ級
B. Ⅱ級
C. Ⅲ級
D. Ⅱ級或Ⅱ級以上
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A. 通用工藝
B. 專用工藝
C. 通用技術(shù)條件、委托書
D. 通用工藝和專用工藝
E. 以上全部
A. 采用不同折射角度的探頭
B. 提高探測頻率
C. 修磨探測面寬度
D. 改善探測面粗糙度
A.對檢測的缺陷進(jìn)行準(zhǔn)確的定位
B. 對檢測的缺陷進(jìn)行準(zhǔn)確的定量
C.準(zhǔn)確判定焊縫根部反射波
D. 準(zhǔn)確判定結(jié)構(gòu)反射波和缺陷波
A. 校準(zhǔn)后的探頭、耦合劑和儀器調(diào)節(jié)旋鈕發(fā)生改變時
B. 檢測人員懷疑掃描量程或掃查靈敏度有變化時
C. 連續(xù)工作4h以上或工作結(jié)束時
D. 以上都對
A. 水平線性≤2%
B. 垂直線性≤4%
C. 直探頭的遠(yuǎn)場分辨力不小于20dB
D. 儀器至少在顯示屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示
最新試題
用2.5P20Z直探頭檢測厚500mm的工件，CL=5900m/s ， 檢測中在200mm處發(fā)現(xiàn)一缺陷， 其波高比底波低12dB ， 求此缺陷的當(dāng)量大小？
用2.5P14Z直探頭檢測外徑1100mm，壁厚200mm筒形鋼鍛件 CL= 5900m/s 。 在內(nèi)壁作徑向檢測時， 如何用外壁曲面回波調(diào)節(jié)Ф=2mm檢測靈敏度？
用K2探頭探測T＝36mm鋼板對接焊接接頭，儀器按深度l：1調(diào)節(jié)，在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Φ1×6面板曲線，這時衰減器讀數(shù)為32dB，試塊與工件耦合差為5dB， （1）試問焊縫兩側(cè)的修磨寬度各為多少？（2）如何設(shè)定Φ1×6－9dB評定線靈敏度？
用2.5P20Z探頭檢測厚400mm的鋼鍛件，鋼中CL=5900m/s ， 衰減系數(shù)α2= 0.01dB/mm ， （1）如用試塊（衰減可忽略）上的深200mm ，Ф4mm的平底孔校準(zhǔn)400mm處檢測靈敏度（400/Ф2），兩者的波高差為多少？ （2）如果用厚度為200mm的試塊（鍛件與試塊衰減系數(shù)相同，耦合差為5dB）底波調(diào)節(jié)檢測靈敏度（400/Ф2），兩者反射波高差為多少？
用K1探頭探測外徑為600mm焊縫筒體，計算能探測的壁厚最大厚度是多少？
用K2斜探頭檢測T = 28mm 的鋼板對接接頭 ，儀器按深度1：1調(diào)節(jié)，在顯示屏上利用CSK-ⅢA試塊繪制Ф1×6面板曲線，這時衰減器讀數(shù)為34dB ， 試塊與工件耦合差為5dB ，（1） 如何調(diào)節(jié)評定線Ф1×6－9dB靈敏度？（2） 檢測中在 =50處發(fā)現(xiàn)一缺陷波，其波高達(dá)面板曲線時， 衰減器讀數(shù)為28dB，求該缺陷的當(dāng)量和所在區(qū)域？（按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無損檢測》標(biāo)準(zhǔn)）
用2.5P20Z直探頭檢測厚400mm的鋼鍛件（CL=5900m/s ） ，檢測靈敏度校準(zhǔn)（400/Ф2）后進(jìn)行檢測，發(fā)現(xiàn)在250mm處有一缺陷，缺陷波幅比基準(zhǔn)波幅高30dB，求此缺陷當(dāng)量？
用K2探頭檢測板厚分別為30mm 、65mm的鋼板對接焊縫，試問按照J(rèn)B/T4730.3-2005《承壓設(shè)備無損檢測》 B級標(biāo)準(zhǔn)焊縫兩側(cè)的修磨寬度各為多少？
模擬式超聲波探傷儀用K1.0斜探頭，對準(zhǔn)CSK-ⅠA試塊R50和R100圓弧，顯示屏上R50和R100圓弧回波分別對準(zhǔn)刻度35.4和70.8 。求按橫波深度調(diào)節(jié)其掃描速度為多少？
用單斜探頭直接接觸法檢測φ400×48mm無縫鋼管，求能夠檢測到管內(nèi)壁探頭的最大K值？