A.接觸法單探頭
B.水浸法聚焦探頭
C.接觸法雙探頭
D.水浸法平探頭
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A.薄壁管的檢測(cè)是以周向橫波檢測(cè)為主
B.調(diào)整靈敏度的試塊應(yīng)采用內(nèi)、外壁均有人工刻槽的相同管材
C.由于曲面會(huì)引起折射角的擴(kuò)散,應(yīng)使用小晶片探頭
D.以上都對(duì)
A.不小于0.2
B.不大于0.2
C.不大于0.5
D.以上都不對(duì)
A.橫波檢測(cè)薄壁管的內(nèi)、外壁缺陷
B.斜入射縱波檢測(cè)厚壁管外壁缺陷,變形橫波檢測(cè)內(nèi)壁缺陷
C.斜入射縱波檢測(cè)厚壁管外壁缺陷,反射縱波檢測(cè)內(nèi)壁缺陷
D.以上都是
A.藍(lán)姆波法
B.接觸式反射回波法
C.水浸式穿透法
D.以上都不合適
A.將縱波斜入射至薄板中激勵(lì)蘭姆波是目前最常用的方法
B.蘭姆波是在整個(gè)板厚范圍內(nèi)傳播的
C.蘭姆波的相速度是隨頻率、板厚、和蘭姆波模式三個(gè)因素而變化的
D.以上都是
最新試題
探頭延檢測(cè)面水平移動(dòng),超聲檢測(cè)系統(tǒng)區(qū)分兩個(gè)相鄰缺陷的能量稱為()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面相垂直的面狀缺陷。
單探頭法容易檢出()。
當(dāng)縱波直探頭置于細(xì)長工件上時(shí),在底波之后出現(xiàn)一系列的波,這種波是()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測(cè)靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時(shí),需要進(jìn)行傳輸修正。
縱波直探頭徑向檢測(cè)實(shí)心圓柱時(shí),在第一次底波之后,還有2個(gè)特定位置的反射波,這種波是()。
()可以檢測(cè)出與探測(cè)面垂直的橫向缺陷。
利用底波計(jì)算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時(shí),適用的工件厚度為()。
用折射角β的斜探頭進(jìn)行檢測(cè),儀器顯示缺陷的聲程為S,則缺陷的水平距離l為()。
在對(duì)缺陷進(jìn)行定量前,必須先調(diào)節(jié)()。