分析下列試樣應(yīng)選用何種光源?
(1)礦石中元素的定性和半定量分析;
(2)銅合金中的錫(ωSn=0.x%);
(3)鋼中的猛(ωMn=0.0x%~0.x%);
(4)污水中的Cr、Cu、Fe、Pb、V的定量分析;
(5)人發(fā)中Cu、Mn、Zn、Cd、Pb的定量分析。
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A.清洗電極
B.活化電極
C.校正電極
D.除去沾污的雜質(zhì)
A.不對稱電位
B.液接電位
C.溫度
D.不對稱電位和液接電位
A.電池的電極電位
B.溫度和壓力
C.反應(yīng)物質(zhì)的活度
D.以上全部
A.電極電位的高低和電極反應(yīng)的性質(zhì)
B.電極材料的性質(zhì)
C.離子濃度
D.溫度
最新試題
原子光譜不但反映原子或者離子的性質(zhì),還能提供原子或離子來源的分子信息。
在AAS測試中,火焰原子化時(shí),通常調(diào)節(jié)霧化器可以改變和控制進(jìn)樣速度。
自然變寬和同位素變寬是原子固有的性質(zhì)所引起,可設(shè)法消除。
石墨管式原子化器的檢測限比火焰原子化器高,注入的試樣幾乎可全部原子化,基態(tài)原子在光路中停留的時(shí)間短。
色譜流出曲線圖中的標(biāo)準(zhǔn)差是指正態(tài)色譜峰上兩拐點(diǎn)間距離的一半,其大小反映組分流出色譜柱的離散程度,標(biāo)準(zhǔn)差越大,色譜峰越寬。
消除AAS測試中的電離干擾可采用適當(dāng)控制火焰溫度,加入消電離劑(主要為堿金屬元素)等來抑制待測原子的電離。
內(nèi)標(biāo)法進(jìn)行氣相色譜定量分析時(shí),內(nèi)標(biāo)物加入量可以隨意加入。
在AAS測試中,火焰原子化時(shí),通常通過調(diào)節(jié)燃燒器高度來控制光束通過火焰的電離、化合區(qū)域。
在AAS測試中,石墨爐原子化時(shí),灰化的的目的是去除基體,尤其是有機(jī)質(zhì)的去除。在不損失待測原子時(shí),使用盡可能高的溫度和長的時(shí)間。
不同基團(tuán)的某一種振動(dòng)形式可能會(huì)在同一頻率范圍內(nèi)都有紅外吸收。