A.使用放大鏡
B.復(fù)制顯示磁痕
C.在顯示形成過程中觀察顯示形成
D.以上都是
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A.現(xiàn)場記錄磁痕,如有可能應(yīng)采用復(fù)印法
B.磁痕復(fù)印應(yīng)在磁痕干燥后進(jìn)行
C.用拍照法記錄磁痕時(shí),須把量尺同時(shí)拍攝進(jìn)去
D.以上都是
A.電阻小
B.探傷面能用肉眼觀察
C.探傷面必須光滑
D.試件必須有磁性
A.1/4磁極間距
B.50mm
C.1/4最大磁極間距
D.15mm
A.70~200mm之間
B.50~200mm之間
C.75~250mm之間
D.以上均可
A.4N
B.45N
C.68N
D.92N
最新試題
焊接工藝處理超標(biāo)缺陷必須閱片的主要目的是()。
為了提高射線照相對比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
一次完整的補(bǔ)焊過程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。
像質(zhì)計(jì)放置次數(shù)一般應(yīng)與透照次數(shù)相同,相同部位、相同的透照條件連續(xù)透照時(shí)可適當(dāng)減少放置次數(shù).但不少于透照次數(shù)的三分之一。
X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。
射線檢測最有害的危險(xiǎn)源是(),必須嚴(yán)加控制。
對于直徑Φ50mm導(dǎo)管環(huán)焊縫,采用的透照方式為()。
對焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。
產(chǎn)品焊接接頭最終質(zhì)量經(jīng)X射線檢驗(yàn)合格后不得再實(shí)施影響接頭性能的加工(如校形、修刮、重熔等),否則應(yīng)重新申請進(jìn)行X射線檢測。
點(diǎn)焊未熔合、脫焊等面狀缺陷最有效的檢測方法是X射線檢測。