以下效應可用于普朗克常量測量的是（）。

以下不屬于光纖干涉儀的有（）。

電光效應反映介質折射率與電場強度可能呈（）。

以下主要利用光伏效應的光電器件有（）。

以下屬于光電檢測儀器的有（）。

光伏探測器處于光電導工作模式，其外加偏壓為正向偏壓。

熱釋電器件是一種利用某些晶體材料的自發(fā)極化強度隨溫度變化而產生的熱釋電效應制成的熱探測器件。

CMOS的字母C的英文單詞是（）。

光電探測器的選擇要點包括（）。

半導體激光器在激光外徑掃描儀中起到提供光源的作用。